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TSCQ1012 40~100G誤碼儀老化系統

TSCQ1012 40~100G誤碼儀老化系統

詳細信息

設備描述

TSCQ1012 設備是40GE/44.3G/56G/100G誤碼儀老化系統,同時支持8路光模塊測試開發功能:40G/100G QSFP+/QSFP28的光模塊,主要用于40GE/CPRI/64GFC/100GE/128GFC光模塊/AOC開發測試。

采用開放性機箱,主要特性如下:

  •      雙路7~9V電源,相互備份,面板上的指示燈查看當前電源供電情況;
  •      靈活的主從模塊式架構設計:一套主板+多套子板模式;
  •      最多可支持4套子板模塊,即最多支持8路QSFP+/QSFP28的光模塊;
  •      每路光接口均支持40GE/CPRI/64GFC/100GE/128GFC業務速率。


RF 接口性能參數指標

參數名稱

最小值

典型值

最大值

單位

備注

數據速率

9

 

30

Gb/s

 

供電電源

5

8.5

9

V(DC)

 

整機功耗(無光模塊)

 

15

20

W

系統最大支持 150W

整機功耗(滿配置光模塊)

30

 

65

 

W

備注1

工作溫度

-10

 

85

oC

 

貯存溫度

-10

 

70

oC

 

濕度

5

 

90

%

Non-Condensing

模塊接口

QSFP+ / QSFP28封裝格式

 

備注: 滿配置光模塊的最小功耗值:系統配置8路40G SR4模塊測試功耗;

          滿配置光模塊的最大功耗值:系統配置8100G LR4模塊測試功耗。


 操作界面

誤碼儀由PC機控制,模塊界面如下:

上一個:Tera3001-Q 多通道自動耦合平臺
下一個:Tera2000 10~100G 模塊自動化測試平臺
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公司名稱:深圳市灣泰若科技開發有限公司

聯系人:盧小姐

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地 址:深圳市寶安區區留仙三路長豐工業園F4棟A座4樓403。

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